7) एक्स-रे स्पेक्ट्रोमेट्री- एचवीसी कैपेसिटर, एचवी सिरेमिक कैपेसिटर सभी प्रकार के एक्स-रे मशीन का निर्माण करने के लिए।
EPMA एक पारंपरिक SEM एक प्रवर्तन निदेशालय के साथ सुसज्जित आवश्यकता हो सकती है
प्राथमिक संरचना के निर्धारण के लिए एक्स-रे डिटेक्टर
microsized वस्तुओं की; हालांकि, गहन ब्रेम्सस्ट्रॉलंग
नमूना शरीर में रोमांचक इलेक्ट्रॉनों द्वारा उत्पन्न
बढ़ जाती है अलग से काफी कम से कम पता लगाने मात्रा
घटक तत्व। यदि SEM डिवाइस इस सीमा में सुधार किया जा सकता है
इस तरह की उत्तेजना के लिए एक अतिरिक्त एक्स-रे ट्यूब के साथ सुसज्जित है
कणों या एक बड़ा नमूना की एक microsized बात यह है कि इस्तेमाल किया जा सकता
इलेक्ट्रॉन बीम के वैकल्पिक बजाय, के रूप में द्वारा प्रकाशित किया गया था
Bjeoumikhov और सह कार्यकर्ताओं (C17)। शोधकर्ताओं ने एक कम इस्तेमाल किया
बिजली लघु ट्यूब है कि एक पूरा फिल्टर परिवर्तक डिवाइस था
और polycapillary और monocapillary प्रकाशिकी के विभिन्न प्रकार
आदेश के आधार 5 आईएम को 100 से afocal मौके व्यास प्रदान करने के लिए
ऑप्टिक डिवाइस के प्रकार पर। लेखकों का प्रदर्शन
कुछ माप के साथ अपने नए डिवाइस के विश्लेषणात्मक क्षमता
धातु के कणों और मिश्र पर प्रदर्शन किया, और वे कहते हैं कि उल्लिखित
इस संयुक्त विधि के विश्लेषणात्मक लाभ कम का पता लगाने के लिए है
पूरे जेड श्रेणी में सीमा। तनाका एट अल। की समीक्षा की (C18) एक नया
एक undulator चुंबक के डिजाइन विकिरण के लिए विकसित
Spring8 की सुविधा: एक उच्च तापमान superconductor- चुंबक
बनाया गया है और एक स्थायी चुंबक जो चुम्बकीय है के रूप में कार्य करता है
बगल में। नई चुंबक के लाभप्रद गुण हैं
ऑपरेटिंग तापमान तरल वह तुलना में बहुत अधिक है
तापमान और उच्च चुंबकीय क्षेत्र में पाया गया था? 4Tat
ज्यादा से ज्यादा। चांग और उसके अंतरराष्ट्रीय अनुसंधान समूह प्रकाशित
(C19) एक चरम डिवाइस, एक फेब्री -Perrot गुंजयमान यंत्र, कड़ी मेहनत के लिए पर
एक्स रे; यह 25-150- के साथ दो सी क्रिस्टल प्लेटों से निर्माण किया गया था
आईएम मोटाई और उन दोनों के बीच 40-150- आईएम दूरी। उन्होने प्रयोग किया
14.4388-कीव ऊर्जा के साथ monochromatized एसई, और अति उच्च
चार क्रिस्टल डिवाइस की ऊर्जा संकल्प 0.36 एमईवी में स्थापित किया गया था।
सी प्लेटों के बीच अंतरिक्ष के लिए एक गुहा गुंजयमान यंत्र के रूप में काम
एक्स-रे, गुंजयमान यंत्र की गुंजयमान आवृत्ति द्वारा स्थापित किया गया था
(एक क्षैतिज अक्ष के साथ) झुकने और (एक ऊर्ध्वाधर अक्ष के साथ) घूर्णन
गुंजयमान यंत्र, और वापस परिलक्षित होता है और आगे-प्रेषित
मुस्कराते हुए बातचीत की, एक्स-रे तीव्रता का एक विचलन में जिसके परिणामस्वरूप।
शोधकर्ताओं ने निष्कर्ष निकाला है कि वे पहली बार के लिए मनाया
कड़ी मेहनत के लिए एक फेब्री पेरोट गुंजयमान यंत्र में एक्स-रे का गुहा गूंज
एक्स-रे, और वे के लिए एक नया अवसर के रूप में इस आशय की भविष्यवाणी की
एक्स-रे प्रकाशिकी, माइक्रोस्कोपी, और स्पेक्ट्रोस्कोपी। में सीटू एक्स-रे
स्पेक्ट्रोस्कोपी माप कभी कभी अत्यधिक शारीरिक आवश्यकता
की स्थिति, जैसे, आंतरिक संरचना के अध्ययन के लिए उच्च दबाव
माल की या गुण। Kunz एट अल। की समीक्षा की (C20) एक नया
एक्स-रे विवर्तन और स्पेक्ट्रोस्कोपी प्रयोजनों के लिए उच्च दबाव सेल
superconductive झुकने के साथ उन्नत हल्के स्रोत पर
5 और 35 कीव के एक्स-रे ऊर्जा के बीच चुंबक स्रोत, अप करने के लिए एक
50 GPa के दबाव और 800 लालकृष्ण beamline के एक तापमान
विशेष प्रकाशिकी, जो एक विमान परवलय collimating से मिलकर है
दर्पण, सी (111) के साथ एक Kohzu monochromator पोत द्वारा पीछा किया
क्रिस्टल और डब्ल्यू / बी
4C multilayers, और फिर एक toroidal ध्यान केंद्रित
एक चर ध्यान केंद्रित दूरी के साथ दर्पण। किरण की स्थापना के लिए
स्थिति, एक स्वचालित प्रणाली उपलब्ध है और अलग अलग slits था,
आयन कक्षों, और सीसीडी क्षेत्र डिटेक्टरों के रूप में अच्छी तरह से इकट्ठा कर रहे हैं।
Multilayers एक्स-रे monocromatization में एक महत्वपूर्ण उपकरण हैं के कारण
उनकी उच्च भावना और उच्च एक्स-रे प्रवाह के खिलाफ प्रतिरोधकता;
हालांकि, वहाँ सुधार के निर्माण के लिए एक सतत मांग है
नई परत संरचना और सामग्री की। एक रूसी अनुसंधान समूह
के आधार पर Artioukov (C21) के साथ एक उपन्यास बहुपरत विकसित
3-6 एनएम तरंग दैर्ध्य के साथ एक्स-रे के लिए यू समाप्त हो। परावर्तन
इस नए बहुपरत तुलना में 1.3-2 का एक पहलू की वृद्धि हुई
3d तत्वों के विभिन्न संरचनाओं का निर्माण multilayers के साथ।
लेखकों विकसित एक्स-रे उपकरणों के महत्व पर बल दिया
इस तरंगदैर्ध्य रेंज के लिए है क्योंकि यह सी-कश्मीर किनारे के पास है (ई)
280 eV) कि जैविक नमूने में और में प्रमुख तत्व है
विभिन्न जैविक सामग्री, और एक्स-रे ऑप्टिकल उपकरणों की जरूरत है
सी किनारे से नीचे XANES, XRF, और EXAFS मापन के लिए।
समाप्त यू कोटिंग्स काफी चिकनी होना पाया गया है और
अलग बहुपरत रूपों में एक स्थिर इंटरफेस बनाने: यू सी,
U2C3-सी। Erko और सह कार्यकर्ताओं वर्णित (C22) beamline
Bessy पर क्षमता XRS के लिए समर्पित है, XRF, विवर्तन, और छोटे
माइक्रोमीटर और submicrometer स्थानिक में कोण बिखरने
2 -30 कीव के एक्स-रे ऊर्जा रेंज में संकल्प, सभी संयोजन
हूबहू एक ही beamline अंत में इन तकनीकों को मापने
स्टेशन। एक्स-रे बीम के लिए एक microsize फोकल स्थान के लिए व्यवस्था करने के लिए,
विभिन्न ऑप्टिकल तत्वों पर विचार किया गया: एक ब्रैग -Fresnel जोन
लेंस है कि 26%, monocapillary की एक विवर्तन दक्षता था और
polycapillary लेंस, और दर्पण। एक अंतरराष्ट्रीय शोध समूह
बेयर (C23) एक नवनिर्मित क्रिस्टल स्पेक्ट्रोमीटर के प्रकाशित
सी (211) और जीई क्रिस्टल के आधार पर बहुत ही सटीक स्पेक्ट्रोस्कोपी के लिए
ध्यान केंद्रित कर मुआवजा विषम Laue (फोकल) ज्यामिति में,
यानी, एक घुमावदार Laue क्रिस्टल के माध्यम से प्रसारण विधा में।
स्पेक्ट्रोमीटर 30-120 कीव की ऊर्जा श्रृंखला में लागू किया जा सकता है;
एक रंग का एक्स-रे पर एक सीमित क्षेत्र से परिलक्षित किया गया
क्रिस्टल और एक रोलैंड चक्र पर ध्यान केंद्रित किया गया। लेखक
विस्तार से वर्णित क्रिस्टल के सामान्य ज्यामितीय योजना
स्पेक्ट्रोमीटर, पृष्ठभूमि दमन और परिरक्षण, पाली
रंगीन ध्यान केंद्रित तकनीक और स्थिति संवेदनशील एक्स-रे
डिटेक्टर, और वे दक्षता का पता लगाने के साथ निपटा। एक-
और polycapillary ध्यान केंद्रित उपकरणों इष्टतम ऑप्टिकल तत्व हैं
माइक्रोमीटर आकार स्थानिक संकल्प के साथ विश्लेषण के लिए। एक चीनी
अनुसंधान समूह प्रकाशित (C24) एक टेबलटॉप की एक रिपोर्ट spectrom-
eter डिवाइस एक स्थिति- के साथ एक विमान क्रिस्टल WD विधि का उपयोग
संवेदनशील आनुपातिक काउंटर और अखंड polycapillary एक्स-रे
लेंस ध्यान दे। फोकल स्थान के सबसे छोटे आकार के लिए 50 आईएम था
घन कश्मीर आर लाइन, और ऊर्जा संकल्प 4.4 eV होना पाया गया
तिवारी कश्मीर आर लाइन पर। एक स्पेक्ट्रोमीटर के एक्स-रे स्रोत था
एक 0.3 साथ घन एनोड घूर्णन? 0.3 मिमी
2
एक की दिशा में स्थान
6 टेकऑफ़ कोण °। एक्स रे ट्यूब द्वारा उत्सर्जित से ध्यान केंद्रित कर रहे
नमूना की सतह, और माध्यमिक पर polycapillary प्रकाशिकी
एक्स-रे किरण नमूना तत्वों द्वारा उत्सर्जित पर impinges
विश्लेषण क्रिस्टल की सतह है कि एक स्थिति के प्रति संवेदनशील को दर्शाता है
डिटेक्टर, यानी, तरंग दैर्ध्य पर निर्भर तीव्रता वितरण है
एक की स्थिति पर निर्भर तीव्रता वितरण में तब्दील हो।
स्पेक्ट्रोमीटर विशेष रूप से दुर्लभ के निर्धारण के लिए उपयुक्त है
उनकी एल लाइन तीव्रता के आधार पर पृथ्वी तत्व।
एक modularly बनाया गया है और कॉम्पैक्ट एक्स-रे ट्यूब विकसित किया गया था
Bjeoumikhov एट अल द्वारा। (C25), दोनों XRF और XRD अनुप्रयोगों के लिए,
एक अस्थिर polycapillary लेंस और फिल्टर के साथ सुसज्जित है।
डिवाइस का पता लगाने के लिए एक स्थिति के प्रति संवेदनशील सेंसर करने के लिए सौंपा जा सकता है
XRD पैटर्न की, एक अधिग्रहण के लिए अर्धचालक प्रवर्तन निदेशालय डिटेक्टर
माध्यमिक एक्स-रे, और ऑप्टिकली के पर्यवेक्षण के लिए एक सीसीडी कैमरा की
नमूना विश्लेषण। ट्यूब एक धातु, चीनी मिट्टी के लिए बनाया गया है आइटम
वैकल्पिक सीआर, सह, घन, मो, एजी, पीडी, या डब्ल्यू एनोड, और इसके साथ कर सकते हैं
0 -55 मा वर्तमान के साथ 0 -1 कीव की एक विस्तृत वोल्टेज अंतराल में काम करते हैं,
30-W अधिकतम एनोड लोड, और 50-आईएम एनोड मौके व्यास। कम
बिजली एक्स-रे ट्यूब एनोड मौके की एक कम क्षेत्र है कि
तेजी से उत्सर्जित एक्स-रे, की चमक कम हो जाती है जो
इस आशय का polycapillary लेंस के उपयोग से मुआवजा दिया जा सकता है
नमूना पर विकिरणित हाजिर करने के लिए प्राथमिक बीम ध्यान
सतह। लेखकों spectrographical capabili- प्रदर्शन
XRF XRD और प्रयोगों के साथ इस नई डिवाइस के संबंधों। Longoni
और अन्य। (C26) एक नए डिजाइन कॉम्पैक्ट प्रवर्तन निदेशालय एक्स-रे वर्णित
एक अखंड अंगूठी के आकार सरणी SDD पर आधारित स्पेक्ट्रोमीटर
इसके केंद्र में एक छेद के साथ 12 तत्वों से मिलकर, एक polycapillary
प्राथमिक एक्स-रे बीम एक microfocus द्वारा उत्सर्जित ध्यान केंद्रित के लिए लेंस
एक्स-रे जनरेटर, andx-y नमूना चलती सेटअप। अधिकतम
डब्ल्यू एनोड एक्स-रे ट्यूब के उच्च वोल्टेज 50- आइए साथ 500 केवी था
वर्तमान, और एनोड जगह थी? व्यास में 50ím। लाभ
polycapillary लेंस का कारक 2500-कीव ऊर्जा पर 10 था, और
प्राथमिक एक्स-किरणों की फोकल स्थान के व्यास के बीच था
45 और 70 25-कीव एक्स-रे ऊर्जा पर आईएम। स्पेक्ट्रोमीटर था
मुख्यतः पुरातत्व की प्राथमिक मानचित्रण विश्लेषण के लिए विकसित
पर 100 -250- आईएम पिक्सेल आकार के साथ तार्किक और जैविक नमूने
10 एमएम क्षेत्रों के लिए कई 1- im। एक पोर्टेबल स्पेक्ट्रोमीटर XRF रिपोर्ट
Zarkadas और Karydas (C27) द्वारा और साथ प्रकाशित किया गया था एक का उपयोग कर
अंत खिड़की एक्स-रे ट्यूब के एक बैटरी होने वोल्टेज द्वारा संचालित
40 केवी और एक Au एनोड के साथ 30íA और एक Peltier ठंडा सी-पिन
डिटेक्टर। सीए, तिवारी, MN, और घन के लिए न्यूनतम पता लगाने का स्तर
548, 419, 219, और 248 पीजी, क्रमशः होना पाया गया है।
स्पेक्ट्रोमीटर मुख्यतः के विश्लेषण के लिए विकसित किया गया था
पुरातात्विक नमूने, और लेख एक आवेदन पर रिपोर्ट
टांका लगाने की तकनीक है कि की एक जोड़ी में लागू किया गया था की पहचान
हेलेनिस्टिक Au बालियां। एक उपन्यास इलेक्ट्रॉन असर पड़ा एक्स-रे स्रोत
Hemberg और अपने शोध समूह (C28) द्वारा समीक्षा की गई; यह उपयोगकर्ता है
Sn63 Pb37 मिलाप के आधार पर एक उच्च गति तरल धातु जेट एनोड
पिघल रूप में एनोड सामग्री के रूप में मिश्र धातु। इलेक्ट्रॉन की अवधारणा
प्रभाव प्रकार एक्स-रे स्रोतों मुख्यतः के बाद से नहीं बदला है
एक्स-किरणों की खोज। मुख्य तकनीकी समस्या यह है कि के 99%
एनोड में असर पड़ा ऊर्जा सामग्री हीटिंग द्वारा खो दिया है।
लाइन ध्यान केंद्रित है और एनोड निर्माणों घूर्णन ही थे
मौलिक तकनीकों का अंश बढ़ाने के लिए विकसित
सुधार के माध्यम से एक्स-किरणों पैदा करने के लिए प्रभावित किया ऊर्जा
एनोड की गर्मी क्षमता की। लेखकों प्रदर्शन किया है कि
एक कॉम्पैक्ट एक्स-रे स्रोत के लिए अपने नए डिजाइन एक 100 समय प्रदान करता है
उच्च चमक (फोटॉनों मिमी में
-2
sr
-1
s
-1
) जो इलेक्ट्रॉन में
किरण, (इसके तापमान मिलाप सामग्री का तरल जेट पर ध्यान केंद्रित
183 डिग्री सेल्सियस, मिश्र धातु बीम के व्यास 100í मीटर था था)
50 एम / एस की रफ्तार के साथ निर्वात में पंप। के आधार पर
लेखकों के प्रयोगों, प्रथम संस्करण की चमक
डिवाइस 10 पर अनुमान लगाया गया था
13
फोटॉनों मिमी
-2
mrad
-2
s
-1
के लिए
एस.एन.-के.आर. लाइन। यही कारण है कि मूल्य के साथ तुलना में उल्लेखनीय है
चुंबक विकिरण झुकने की चमक (10
15
फोटॉनों मिमी
-2
mrad
- 2
s
- 1
प्रति 0.1% बैंडविड्थ)। इस के नए निर्माण
कॉम्पैक्ट एक्स-रे स्रोत संभावित मध्यम पैमाने में एक उम्मीदवार है
चिकित्सा utilizations में, प्रोटीन क्रिस्टल के रूप में प्रयोगशाला अनुप्रयोगों
lography, चरण इमेजिंग, और किसी भी अन्य उपयोग के लिए जहां एक उच्च प्रवाह
एक्स-रे बीम एक बुनियादी आवश्यकता है।
अंत में, इस खंड में, हम एक समीक्षा कागज द्वारा प्रकाशित अदालत में तलब
डेविड एट अल। (C29) तकनीकी और मापने पहलुओं के बारे में
अपवर्तनांक के अनुप्रयोगों और diffractive ऑप्टिकल तत्वों की
एक्स-रे के लिए microanalysis। शोधकर्ताओं ने योजनाबद्ध तरीके से चरित्र
एक्स-रे लेंस के मुख्य समूह ized: मुलायम के लिए Fresnel क्षेत्र प्लेटों
एक्स-रे क्षेत्र, हार्ड एक्स-रे के लिए रेखीय सी जोन प्लेटें, सी तलीय
कठिन एक्स-रे के लिए अपवर्तक लेंस, और हीरे तलीय अपवर्तनांक
चौथी पीढ़ी के एक्स-रे स्रोतों के लिए लेंस। इन ऑप्टिकल उपकरणों
250 eV से फोटान ऊर्जा रेंज 50 कीव अप करने के साथ कवर
26-65% संचरण क्षमता और के लिए 100 एनएम फोकल स्थान के साथ
Fresnel क्षेत्र प्लेटें। लेखकों अत्यंत advanta- उल्लिखित
हीरे की अपवर्तक लेंस के geous वर्णक्रम गुण, जैसे कि
उच्च तापीय चालकता के रूप में, कम थर्मल विस्तार गुणांक,
और उच्च तापीय स्थिरता, उनमें अधिकांश के रूप में predestinating
मुक्त इलेक्ट्रॉन लेजर एक्स-रे स्रोतों के लिए उपयुक्त ऑप्टिकल उपकरणों; इन
भविष्य एक्स-रे स्रोतों बहुत साथ ultrashort एक्स-रे दालों प्रदान करेगा
उच्च प्रतिभा आज के तीसरे ऊपर परिमाण के आदेश 10 के लिए ऊपर
पीढ़ी विकिरण की सुविधा।
मात्रा का ठहराव और मौलिक डेटा
विभिन्न मात्रा का ठहराव के लिए मॉडल की कला के राज्य
XRF अनुप्रयोगों elemen- की standardless दृढ़ संकल्प की पेशकश
सैन्य संरचना या विश्लेषण किया के अन्य शारीरिक मापदंडों
सामग्री और मात्रा का ठहराव द्वारा इस्तेमाल के लिए मौलिक परमाणु डेटा
प्रक्रियाओं काफी महत्व की हमेशा से रहे हैं। इसलिए, इस क्षेत्र में
XRS की, कई प्रकाशनों के दौरान साहित्य में जारी किए गए थे
समीक्षा अवधि। हम चरित्र के लिए उनमें से कुछ का चयन करने का इरादा
इस क्षेत्र में मुख्य प्रवृत्तियों ize। एक अर्जेंटीनी अनुसंधान समूह
(D1) एल विकिरणवाला decays के लिए संक्रमण दरों चुना गया
प्रतिदीप्ति की माप के माध्यम से Yb, Hf, और टा के लिए खोल
लाइनों और प्राप्त EDXRF स्पेक्ट्रा की सटीक फिटिंग उत्पन्न
एसआर साथ। गणना की दरों की शुद्धता बढ़ाने के लिए, वे
सातत्य और विशेषता विकिरण कलाकृतियों माना
के रूप में अच्छी तरह से स्पेक्ट्रा में है और उन्हें स्पेक्ट्रा फिटिंग में शामिल
प्रक्रिया। संक्रमण दरों के लिए उनके परिणाम अच्छा सहमत में थे
साहित्य में प्रकाशित आंकड़ों के साथ हुआ है।
बड़े पैमाने पर अवशोषण पार वर्गों का मूल्य सबसे रूपों
पर्याप्त डेटा सभी सैद्धांतिक या semiempirical गणना के लिए निर्धारित
का उपयोग करके विशेषता सामग्री के गुणों के निर्धारण के लिए
एक्स रे। इसलिए, अनुसंधान प्रयासों का निर्धारण करने का इरादा है कि
प्रयोगात्मक या सैद्धांतिक रूप से इन मौलिक देहात की गणना
एक्स-रे ऊर्जा और परमाणु संख्या के माध्यम से rameter कार्यों के हैं
बहुत महत्व। चित्रलेखा एट अल। प्रकाशित (D2) उनके परिणाम
बड़े पैमाने पर क्षीणन coef- की प्रयोगात्मक दृढ़ संकल्प के बारे में
फोटान ऊर्जा में मोनो और डिसैक्राइड पर ficients 5.947,
6.460, और 14.413 कीव, का उपयोग
55
फे और
57
0.74 के साथ सह बिंदु स्रोतों
और 0.37 MBq गतिविधि, क्रमशः। उनके प्रायोगिक परीक्षण करने के लिए
सेटअप, कुछ शुद्ध धातुओं के अवशोषण गुणांक थे
मापा और सैद्धांतिक मूल्यों की तुलना; करार
1% के भीतर था। इसके बजाय सारणीबद्ध सैद्धांतिक डेटा interpolating की,
की सटीक सैद्धांतिक मूल्यों गणना के लिए इस्तेमाल किया लेखकों
क्षीणन WinXCom सॉफ्टवेयर। कई वैज्ञानिक, इंजीनियरिंग, और
चिकित्सा अनुप्रयोगों के लिए एक व्यापक में एक्स-रे के अवशोषण डेटा की आवश्यकता
ऊर्जा सीमा है कि एक पारंपरिक द्वारा सारणीबद्ध संतुष्ट नहीं किया जा सकता
असतत डेटा सेट; हालांकि, शीघ्र और असीमित गणना
इस मौलिक पैरामीटर के निरंतर में आवश्यक है
1 कीव से ऊर्जा रेंज शुद्ध तत्वों के लिए एमईवी 1 के लिए और
यौगिकों। इस कारण से, XCOM और WinXCom सॉफ्टवेयर के लिए
विकसित किए गए और इसकी मुख्य विशेषताएं Gerward और द्वारा प्रकाशित
सह कार्यकर्ता (D3)। सॉफ्टवेयर कुल पार वर्गों प्रदान करता है,
क्षीणन गुणांक, बेतुका और सुसंगत के लिए पार वर्गों
बिखरने प्रभाव, Photoelectron अवशोषण, और जोड़ी उत्पादन
भी। विशाल डाटा WinXCom द्वारा गणना सेट में उपलब्ध है
लघुगणक पैमाने में चित्रमय रूप है, और इसके लिए एक संभावना प्रदान करता है
डेटा के निर्यात आगे मूल्यांकन प्रक्रियाओं के लिए उत्कृष्टता। ए
आश्चर्यजनक परिणाम Kulshrehth एट अल द्वारा प्रकाशित किया गया था। (D4) onthe
अलग एजी की के.आर. / Ka तीव्रता के अनुपात के लिए रासायनिक प्रभाव
यौगिकों (एजी
2CO3, एजी
2SO
4, AGNO
3
, AgCl, AgBr, एजी) 59.6- का उपयोग कर
एक वार्षिक 100 एमसीआई से कीव सी-किरणों
241
Am स्रोत है। लागू किया
सी (ली) डिटेक्टर 30 एमएम था
2
सक्रिय क्षेत्र और 170-EV ऊर्जा
5.9-कीव ऊर्जा पर संकल्प। वे के.आर. / Ka तीव्रता अनुपात पाया
शुद्ध एजी धातु 0.206 (0.003 हो सकता है और एक विस्तृत मनाया करने के लिए
एजी यौगिकों, 0.190 और 0.207 के बीच भिन्नता।
लेखकों अंतर का परिणाम के रूप में उनके परिणाम समझाने
कश्मीर खोल में इलेक्ट्रॉन घनत्व में परिवर्तन से प्रभावित में
valence इलेक्ट्रॉनों का वितरण, अलग होने के कारण
जांच की यौगिकों में रासायनिक स्थिति। पार के अनुभागीय
कश्मीर और एल खोल आयनीकरण के लिए डेटा के लिए बहुत महत्व है
वर्णन करने के लिए और अधिक विश्वसनीय सैद्धांतिक मॉडल विकसित
मौलिक भीतरी खोल आयनीकरण प्रक्रियाओं। कश्मीर के गोले के लिए,
प्रतिदीप्ति उपज और आयनीकरण क्रॉस के पास उपलब्ध आंकड़ों के सेट
वर्गों बहुत सही कर रहे हैं, लेकिन एल गोले के लिए, मौलिक डेटा
प्रयोगात्मक कठिनाइयों के कारण बहुत अधूरे हैं
subshells का अस्तित्व। एल गोले पर रिक्तियों हो सकता है
तेज कोस्टर-Kronig द्वारा तीन subsells के बीच पुनः वितरित
संक्रमण की प्रक्रिया। मंडल एट अल। प्रकाशित (D5) उनके परिणामों पर
एल एक्स-रे प्रतिदीप्ति पार की प्रयोगात्मक दृढ़ संकल्प
62-70 की सीमा में परमाणु संख्या के साथ तत्वों के वर्गों
17.8-, 22.6-, और 25.8-कीव एक्स-रे उत्तेजना ऊर्जा, मो का उपयोग करने पर,
एजी, और एस.एन. एनोड ट्यूबों। लेखकों प्राप्त की तुलना
मौलिक पार अनुभाग मूल्यों सैद्धांतिक रूप से गणना करने के लिए डेटा
प्रतिदीप्ति पैदावार और कोस्टर -Kronig संक्रमण के सेट समस्याएं
क्षमताओं अन्य शोधकर्ता द्वारा प्रकाशित किया है, और वे एक कारण है पाया
सक्षम समझौता। इसी प्रयोगात्मक निर्धारित डेटा थे
में एल एक्स-रे पार वर्गों के लिए Bonzi और Barrea (D6) द्वारा प्रकाशित
एक 45-कीव विकिरण के लिए 50 और 7 के बीच जेड रेंज उत्पन्न
रैखिक monoenergetic एक्स-रे बीम ध्रुवीकरण। लेखकों रोकते
खनन किया le, एलआर, Lâ1, Lâ2, Lç1, और एल ç2
लाइनों और अच्छी तरह से के साथ तुलना में
साहित्य से सारणीबद्ध सैद्धांतिक डेटा जाना जाता है और पाया
प्रयोगात्मक निर्धारित मूल्यों 7-10% से अधिक होने के लिए; में
कुछ विशेष मामलों में, इस अंतर को 40% तक गया था। स्टैन्डर्ड-
कम विश्लेषणात्मक प्रक्रिया Sitko और Zawisza (D7) द्वारा विकसित किया गया था
WDXRF के लिए एक जगमगाहट डिटेक्टर या गैस का उपयोग कर आनुपातिक
काउंटर मौलिक पैरामीटर विधि (यूके) पर आधारित है।
analyte सांद्रता के बुनियादी गणना के आधार पर कर रहे हैं
शर्मन एट अल के गणितीय वर्णन .; कि सिद्धांत भी लेता है
खाते में माध्यमिक वृद्धि प्रभाव के कारण
अन्य के विकिरण द्वारा analyte विशेषता लाइनों की उत्तेजना
नमूने में तत्वों। लेखकों को एक गणना विकसित
ऊर्जा पर निर्भर ef- के निर्धारण के लिए प्रक्रिया
मापा तीव्रता के आधार पर लागू किया डिटेक्टरों की ficiency
नमूना तत्वों की। एफ पी एम की सबसे बड़ी समस्या
WDXRF में आवेदन है कि प्रतिबिंब की दक्षता
क्रिस्टल अज्ञात है; इसलिए, इन कार्यों रोकते होना चाहिए
प्रयोगात्मक मानक नमूने का उपयोग खनन। की जांच के लिए
पूरे WDXRF डिवाइस, सिंथेटिक नमूने गोली में इस्तेमाल किया गया,
फार्म, कश्मीर की
2CO3, CaCO
3, TiO
2
, सीआर 2O3
, सह 2O3
, गा 2O3, एसईओ
2, Y2O3
,
ZrO 2, AGNO
3, और CdCO
3
बोरिक एसिड के साथ समान रूप से मिलाया।
Karydas प्रकाशित (D8) एक उल्लेखनीय अध्ययन और पर गणना
आत्म-तत्व माध्यमिक वृद्धि के प्रभाव; इसका मतलब है कि
कश्मीर और एक तत्व के एल लाइनों, अपनी ही एल या एम लाइनों उत्तेजित हो सकता है
क्रमशः। उसका परिणाम है कि आत्म तत्व उत्तेजना दिखाने
एक रंग का एक्स-रे के मामले में प्रतिदीप्ति योगदान
किरण और शुद्ध तत्व लक्ष्य को ध्यान में रखा जाना चाहिए।
लेखक आत्म-तत्व माध्यमिक प्रभाव का आकलन करने का प्रस्ताव
इसी प्रतिदीप्ति intensi- के अनुपात को मापने के द्वारा
एक पतली और एक असीम मोटी लक्ष्य द्वारा उत्सर्जित संबंधों। आधार पर
परिणाम प्रकाशित की है, यह इस सुधार है कि भविष्यवाणी की जा सकती
गणना के मात्रात्मक XRF विश्लेषण की सटीकता में सुधार होगा
एफ पी एम के माध्यम से।
जुड़कर और असंगति से बिखरे हुए एक्स-रे के लिए हो सकता है
वृद्धि की पहले के आदेश उत्साहित एक्स-रे प्रतिदीप्ति तीव्रता
एक दूसरे क्रम वृद्धि के प्रभाव के माध्यम से, अर्थात्, जब
एक्स-रे कि एक नमूना थोक में बिखरे हुए है नमूना तत्वों उत्तेजित
नमूना शरीर बाहर निकलने से पहले। हुआन एट अल। प्रकाशित (D9)
सैद्धांतिक गणना और इस माध्यमिक की प्रयोगात्मक परिणाम
डिटेक्टर की दिशा में उत्तेजना में विचार उनकी
गणना दोनों जुड़कर और असंगति से बिखरे हुए एक्स रे
एक प्रकाश मैट्रिक्स में। नियंत्रित प्रयोगों से बाहर किए गए
संश्लेषित जुड़े हुए ली से मिलकर नमूनों पर
2B4O7, Libo
2, Sio
2
,
काओ, V2O5
, फे 2O3, एनआईओ, ZnO, wo
3
और PBO। उन्होंने पाया कि
बिखरने योगदान प्रतिदीप्ति बढ़ जाती है intensi-
संबंधों, ज्यादातर उच्च-जेड analytes के लिए और fluo- की कम सांद्रता
rescencing। लेखक इस सुधार लागू करने का प्रस्ताव
एफ पी एम गणना में विधि। अल्वारेज़ के अनुसंधान समूह
(D10) भी मात्रात्मक में एक्स-रे बिखरने की भूमिका पर प्रकाशित
XRF विश्लेषण। जुड़कर और असंगति से बिखरे हुए विकिरण
कई एफपीएम आधारित एल्गोरिदम में प्रयोग किया जाता है। लेखक प्रदर्शन
मोंटे कार्लो सिमुलेशन गणना विकिरण का पता लगाने की परिवहन
नमूने में, Collimator, और डिटेक्टर बिखरने अनुमान लगाने के लिए
के मामले में रेले और कॉम्पटन चोटियों के लिए योगदान
कुंडलाकार रेडियो आइसोटोप उत्तेजना। सिमुलेशन के परिणाम थे
आईएईए-QXAS सॉफ्टवेयर standardless एफ पी एम का उपयोग करने में लागू किया
दृष्टिकोण। अनेक रंगों एक्स-रे प्रतिदीप्ति excita- के मामले में
tion और एफपीएम दृष्टिकोण का उपयोग, ऊर्जा का सही ज्ञान
उत्तेजना एक्स-रे किरण के वितरण की आवश्यकता है। कम लागू करने
बिजली एक्स-रे ट्यूब, स्थानीय प्राथमिक प्रवाह बढ़ाया जा सकता है
काफी polycapillary लेंस के आवेदन के द्वारा। हालांकि,
इस मामले में, के वर्णक्रमीय वितरण के प्रत्यक्ष माप
उत्तेजना बीम बहुत उच्च उत्पादन प्रवाह के कारण असंभव है
(? 10
9
फोटॉनों रों
-1
cm
-2
) केशिका लेंस की। Padilla एट अल।
प्रकाशित (D11) उनके इस माप को सुलझाने के लिए परिणाम
एक पतली परत से बिखरे हुए विकिरण का पता लगाने से समस्या
बजाय प्रत्यक्ष एक्स-रे किरण से उभर मापने का
polycapillary लेंस। लेखकों की गणना जुड़कर और
असंगति से सैद्धांतिक रूप से तीव्रता बिखरे हुए हैं और नकली
बिखरे हुए स्पेक्ट्रा। इन मापों के आधार थे उनकी
semiempirical दृष्टिकोण प्राथमिक ऊर्जा वितरण लगाने के लिए
एक microfocus ट्यूब की। एफ पी एम का निर्धारण करने के लिए इस्तेमाल किया जा सकता
एकल और कई परतों की मोटाई, Nygård एट अल के रूप में। (D12)
सैद्धांतिक रूप से और प्रयोगात्मक दिखाया है। इस्तेमाल किया लेखकों
Au-नी-घन की उत्तेजना के लिए एक मो एक्स-रे ट्यूब से एक सफेद किरण
बहुपरत एक से माध्यमिक एक्स-रे फोटॉनों का पता लगाने के तत्वों
Peltier ठंडा SDD। प्रयोगात्मक निर्धारित मोटाई
एकल परतों के विषय के साथ एक उत्कृष्ट समझौते से पता चला
नाममात्र मूल्यों; हालांकि, कई परतों के मामले में समझौता
गरीब सैद्धांतिक तीव्रता की overestimation की वजह से था
कई परतों में माध्यमिक प्रतिदीप्ति की। लेखक
जब एफपीएम मात्रात्मक के लिए लागू किया जाता है होशियारी की सिफारिश
मोटाई निर्धारण। दो अनुभवजन्य गुणांक मॉडल थे
एक साथ नमूना की गणना के लिए Sitko (D13) द्वारा प्रस्तावित
रचना और मध्यवर्ती मोटाई। पहला मॉडल हो सकता है
इस्तेमाल किया जब नमूना एक अनंत मोटाई पर जमा किया जाता है
सब्सट्रेट या सब्सट्रेट के बिना। हालांकि, इस मामले में, बड़े पैमाने पर
प्रति इकाई क्षेत्र के नाम से जाना पड़ता है। दूसरे मॉडल का अनुमान
बिखरे हुए एक्स-रे तीव्रता के आधार पर नमूना मोटाई।
दोनों मॉडलों द्वारा अनुभवजन्य गुणांक की गणना की आवश्यकता होती है
multielement मानक नमूनों जिसका मोटी की माप
nesses जाना जाता है, और इनमें से सेट की एकाग्रता पर्वतमाला
संदर्भ नमूने प्रत्येक की एकाग्रता पर्वतमाला कवर होगा
अज्ञात नमूने में तत्व। लेखक कड़ाई से परीक्षण किया
के WDXRF विश्लेषण द्वारा प्रयोगात्मक इन प्रस्तावित मॉडल
सिंथेटिक गा के बने नमूने
2O3
,जैसा
2O3, एसईओ
2, ZrO
2, और SrCO
3
बोरिक एसिड के साथ मिश्रित, 4 सेमी व्यास छर्रों के रूप में, और
वह इस्तेमाल किया, आर गुणांक दृढ़ संकल्प, ग्रेनाइट, काले शेल के लिए,
greisen, feldspathic रेत, और बेसाल्ट मानकों।
माध्यमिक लक्ष्य व्यवस्था सुधारने के लिए उपयोगी है
चयनित प्राथमिक उत्तेजना की और प्राप्त करने के लिए "स्पष्ट"
नमूना उत्तेजना के लिए monoenergetic स्पेक्ट्रा; हालांकि, एफपीएम
गणना के लिए एक उपयुक्त सिद्धांत के विकास की जरूरत है और
कलन विधि। Zarkadas और Karydas इस विशेष मॉडल विकसित
आदेश में इस एफ पी एम एल्गोरिथ्म की सटीकता की जांच करने में (D14)
की तुलना के साथ सैद्धांतिक और प्रयोगात्मक निर्धारित
परिणाम है। प्रयोगों के लिए, वे एक 3 किलोवाट एक्स-रे जनरेटर का इस्तेमाल किया
एक चार खिड़की मो एनोड ट्यूब 12 का जुर्माना भी ध्यान केंद्रित होने के साथ?
0.4 मिमी
2
और 1.2 के एक बिंदु पर ध्यान देना? 0.4 मिमी
2
, एक एक के साथ खिड़की बनें
400 आईएम की मोटाई, और एक सी (ली) 30-मिमी के साथ डिटेक्टर
2
सक्रिय
क्षेत्र। माध्यमिक लक्ष्यों के लिए सामग्री Y थे
2O3
, मो,
Sb
2O3, और Baco
3
। लेखक अपने काम से निष्कर्ष निकाला है कि
इस एल्गोरिथ्म विभिन्न पर सटीक जानकारी प्रदान कर सकते हैं
माध्यमिक लक्ष्य आधारित एक्स-रे स्पेक्ट्रोमीटर के संयोजन और
ज्यामितीय मानकों के अनुकूलन की प्रक्रिया में मदद करता है।
के आवेदन में सबसे समस्याग्रस्त कदमों में से एक
गणना के एफपीएम पर आधारित मॉडल अंधेरे का अनुमान है
मैट्रिक्स संरचना को ध्यान में ले जा के अवशोषण
नमूने के इस undetectable हिस्सा है। क्योंकि अंधेरे मैट्रिक्स
एच, सी, हे, और एन के मुख्य रूप से बैमफोर्ड और अपने शोध के होते हैं
समूह (D15) determin- के लिए रदरफोर्ड backscattering (आरबीएस) का इस्तेमाल किया
जैविक नमूने में कम-जेड तत्व मैट्रिक्स हैैं। उन्होंने पाया,
आरबीएस माप के आधार पर, कि matrixes हो सकता है
सी के stoichiometry से बहुत इसी तरह वर्णित
7 एच 10O 5
.
इसलिए, इस "आभासी" रचना इनपुट के रूप में इस्तेमाल किया जा सकता
QXAS सॉफ्टवेयर के लिए अंधेरे मैट्रिक्स रचना के लिए पैरामीटर
अन्य के लिए नमूने के मात्रात्मक रचना की गणना
तत्वों एक higherZ कर रही है। लेखकों द्वारा उनकी विधि का परीक्षण किया
आईएईए-336 मानक के विश्लेषण और एक अच्छा समझौता पाया
मानक के तत्वों में से अधिकांश के लिए। वे से कटौती
इस परिणाम है कि अंधेरे मैट्रिक्स की इस रचना, द्वारा निर्धारित
आरबीएस विश्लेषण, एफपीएम के लिए सामान्य इनपुट डेटा के रूप में लागू किया जा सकता
आरबीएस की पुनरावृत्ति के बिना जैविक नमूने की गणना
माप।
Bottigli एट अल। (D16) प्रकाशित करने के लिए एक मोंटे कार्लो एल्गोरिथ्म
एक्स-रे चित्र या स्पेक्ट्रोस्कोपी प्रयोगों का अनुकरण
विषम इस्तेमाल किया एसआर या एक्स-रे ट्यूब नमूनों पर किए गए।
उपन्यास विधि का एक 3D नियमित ग्रिड विभाजन पर आधारित है
नमूना शरीर है, और यह एक्स-रे fluores- का निर्धारण करने के लिए सक्षम है
cence संकेत प्रत्येक voxel उत्सर्जित। सिमुलेशन कोड के कोर
एक्स-रे फोटॉनों और परमाणुओं के बीच बुनियादी बातचीत समझता
ऐसे photoelectric अवशोषण के रूप में नमूना सामग्री, के, fluores-
प्रतिशत उत्सर्जन, और लोचदार और स्थिर बिखरने प्रक्रियाओं।
लेखकों से बाहर बताया है कि voxel आधारित सिमुलेशन मोड ज्यादा है
तेजी से और कम्प्यूटेशनल लागत के मामले में कम महंगा है।
ठेठ गणना के समय के बाद से विशेषता जा सकता है
डेटा: 300? 300? 95, 2 के साथ प्रत्येक voxels के सेट? 2? 2 आईएम
3
मात्रा अनुकरण के लिए इस्तेमाल किया गया, इनपुट डेटा प्राप्त किया गया
एक 512 से? 512 पिक्सेल सरणी डिटेक्टर, सीपीयू समय एक के लिए था
प्रक्षेपण? 3 रों 1800 मेगाहर्ट्ज के साथ एक पेंटियम चतुर्थ प्रोसेसर का उपयोग।
XRF विश्लेषण के लिए एक विशेष ज्यामितीय व्यवस्था की आवश्यकता है
मापने के प्रदर्शन के अनुकूलन के रूप में स्थापित
राव एट अल द्वारा प्रकाशित किया। (D17), जो सैद्धांतिक रूप से अनुमान
ज्यामितीय दक्षता और पता लगाने के लिए ठोस कोण, कॉम्पटन
पता चला स्पेक्ट्रा को तितर-बितर योगदान है, और monochro-
एक त्रिअक्षीय एक्स-रे ट्यूब के साथ सुसज्जित प्रणाली में मैसी।