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9) एक्स-रे स्पेक्ट्रोमेट्री-एचवीसी कैपेसिटर, एचवी सिरेमिक संधारित्र एक्स-रे मशीन के सभी प्रकार के निर्माण के लिए।

प्राथमिक एक्स-रे फोटॉनों के गुण, उत्पादन गहरी
विकिरणित नमूने में, अंतर से काफी संशोधित कर रहे हैं
क्रिया (बिखरने, माध्यमिक excitations, आदि) के रवाना होने से पहले
नमूना। इन प्रक्रियाओं को बेहतर ढंग से समझने के लिए,
Ferna' एट अल ndez। (D23) प्रकाशित एक विस्तृत 3D गणितीय
मॉडल का वर्णन करने के लिए कैसे उत्सर्जन स्पेक्ट्रा से प्रभावित हैं
इस मामले के साथ बातचीत के परिवहन के सिद्धांत पर आधारित है। पर
गणना के आधार पर, लेखकों में पाया गया है कि न केवल
नमूना रचना लेकिन आसपास के ज्यामिति प्रणाली है
विकिरण क्षेत्र के निर्धारण में काफी महत्व। वे
पता चला एक्स-रे विकिरण को फिर से संगठित करने के लिए अपने कोड का इस्तेमाल किया
एक संकीर्ण एकरंगा द्वारा उत्पन्न (ई) 15 कीव) किरण
एक सजातीय फे लक्ष्य पर ध्यान केंद्रित किया। गणना के मॉडल में,
कई प्रसंस्करण चेन photoelectric- के रूप में माना जाता था
photoelectric, photoelectric-रेले, रेले-photoelectric,
photoelectric -Compton, और कॉम्पटन-photoelectric।
एक नए सैद्धांतिक दृष्टिकोण विलिस द्वारा प्रकाशित किया गया था और
Lachance (D24) के लिए सामान्य एडिटिव सुधार की जगह के लिए
शुरू करने से अवशोषण और interelement वृद्धि प्रभाव
एक गुणक कारक है। लेखकों को एक mathemati- द्वारा प्रदर्शन
कैलोरी वर्णन है कि प्राथमिक और माध्यमिक के लिए अवशोषण
विकिरण से एक और अधिक सरल गणना से मॉडलिंग की जा सकती है
आम तौर पर XRF स्पेक्ट्रोमेट्री में शास्त्रीय रीतिवाद इस्तेमाल किया। काम में लाना
EDXRF साथ सामग्री संरचना की मात्रा का ठहराव के लिए एफ पी एम
एक विश्लेषण, डिटेक्टर दक्षता समारोह की उपलब्धता है
बुनियादी आवश्यकता। दुर्भाग्य से, कम ऊर्जा क्षेत्र में,
दक्षता दृढ़ता से उभरते के अवशोषण से प्रभावित है
डिटेक्टर के प्रवेश द्वार खिड़की में एक्स रे। Scholze और Procop
इस मौलिक समस्या (D25), के बारे में नए परिणाम प्रकाशित
एक बहुलक खिड़की है कि सी, एन, और हे, शामिल हैं 200-400 एनएम है
मोटाई, यांत्रिक सुधार करने के लिए एक सी ग्रिड के द्वारा समर्थित है
स्थिरता, और एक बहुत पतली परत अल द्वारा लेपित है। के अवशोषण
इन संरचनात्मक घटकों की कुल अवशोषण को निर्धारित करता है
डिटेक्टर खिड़की। यह पैरामीटर के पास बढ़त पर निर्भर करता है
ऊर्जा बनाम क्षीणन समारोह की संरचना। खुलासा करना
इस आशय, लेखकों गणना के लिए एक नया मॉडल का प्रस्ताव
पतली खिड़की EDXRF डिटेक्टरों के लिए डिटेक्टर दक्षता की।
मॉडल सामने से अवशोषण की गणना पर आधारित थी
अंत से संपर्क करें और किसी भी अन्य संभावित संक्रमण और पर
खिड़की संप्रेषण की माप। कुछ उदाहरण demon-
एक सी (ली) डिटेक्टर के लिए प्रस्तावित मॉडल की विश्वसनीयता रणनीतियां
एक AP3.3 खिड़की और पर 8 एनएम नी संपर्क के साथ सुसज्जित
डिटेक्टर क्रिस्टल 2 आईजी / सेमी के साथ दूषित
2
ओ इस नए आवेदन करना
दक्षता मॉडल, वे की संख्या की भारी कमी पाया
अज्ञात डिटेक्टर के लक्षण वर्णन में इस्तेमाल किया मानकों
दक्षता गणना।
अंत में हम O'Meara और कैम्पबेल के प्रकाशन की समीक्षा
(D26) एक परंपरागत दक्षता समारोह के सुधार के बारे में

सी (ली) डिटेक्टर की रचना की मोंटे कार्लो सिमुलेशन द्वारा
पूर्ण शिखर तीव्रता और सुसंगत बिखराव के योगदान की
30-कीव करने के लिए photoelectric अवशोषण घटनाओं के बाद बातचीत
एक्स-रे ऊर्जा। वे दक्षता वक्र मापा जाता है और यह द्वारा फिट
एक कम से कम वर्गों प्रक्रिया, एक पारंपरिक मॉडल का उपयोग। वे
के लिए अपने योगदान अनुमान लगाने के लिए इस मॉडल सुधार लागू
दक्षता समारोह बनाम ऊर्जा। प्रयोगों के लिए,
55
लोहे का रासायनिक प्रतीक
65
Zn,
57
सह,
241
Am,
109
सीडी,
133
बा, और
210
पंजाब रेडियोधर्मी बिंदु स्रोत थे
एक सी (ली) डिटेक्टर 5 मिमी नाममात्र मोटाई होने के साथ इस्तेमाल किया
और 80 मिमी सक्रिय क्षेत्र
2
, 8- साथ DuraBeryllium बनें आईएम
खिड़की.

टोमोग्राफी, होलोग्रफ़ी, और एक्स-रे
बिखरने
पिछले दो दशकों के दौरान, एक्स-रे प्रतिदीप्ति होलोग्रफ़ी
(XRFH) और एक्स-रे प्रतिदीप्ति टोमोग्राफी तरीकों में तेजी से थे
विकसित, दोनों प्रयोगात्मक और मूल्यांकन के संदर्भ में
एल्गोरिदम और सैद्धांतिक मॉडल। एक्स-रे होलोग्रफ़ी सक्षम है
की ठोस सामग्री का उपयोग करने में परमाणु स्थानीयकरण की जांच
एक्स-रे की तीव्रता और चरण जानकारी interfer- से प्राप्त
विभिन्न एक्स-रे मुस्कराते हुए उस से परमाणुओं द्वारा उत्सर्जित कर रहे हैं के खिलाडि़यों
ठोस सामग्री के विभिन्न भागों। Tegze एट अल। प्रकाशित (E1) एक
एक्स-रे होलोग्रफ़ी के सिद्धांतों के बारे में सामान्य अवलोकन और
आवश्यक प्रयोगात्मक तकनीक और मापने वर्णित
तरीकों और डेटा विश्लेषण के लिए मूल्यांकन प्रक्रिया; वे
कुछ उदाहरणों के साथ प्रदर्शन कैसे एक परमाणु के आकार संकल्प
पहुँचा जा सकता है। एक्स-रे होलोग्राफिक माप सरल है;
परमाणुओं एक बाहरी एक्स-रे किरण से उत्साहित और फेंकना एक्स-रे कर रहे हैं
प्रतिदीप्ति या बिखरे हुए विकिरण, और कोणीय वितरण
इस विकिरण की मापा जाना है। बुनियादी कठिनाई है
बेहद कम संकेत करने वाली पृष्ठभूमि अनुपात? 10
-3
है, जो परिणाम हो सकता है
एक 2 महीने की अवधि के माप में एक पारंपरिक एक्स-रे का उपयोग कर
ट्यूब। लेखकों में से एक 3D मॉडल के बारे में कुछ उदाहरण से पता चला
जैसे, दृढ़ संकल्प: ठोस एक्स-रे होलोग्रफ़ी द्वारा निर्धारित क्रिस्टल
नी, SrTiO की 3D परमाणु संरचना की
3
सीओओ और एनआईओ क्रिस्टल
और एक AlPdMn में Mn परमाणुओं स्थानीय स्थिति के निर्धारण
अर्ध क्रिस्टल। उन्होंने जोर दिया गहन विकास है कि
पहले प्रयोगात्मक और डेटा मूल्यांकन तकनीक में आवश्यक
इस उत्कृष्ट विधि व्यापक रूप से दिनचर्या विश्लेषण के लिए इस्तेमाल हो जाएगा।
एक जापानी शोध समूह की समीक्षा की (E2) एक नया torodial के आकार का
तुला हुआ ग्रेफाइट विश्लेषक का एक्स-रे होलोग्रफ़ी मापने में स्थापित
SPRING8 सिंक्रोटॉन सुविधा पर प्रणाली, BL37XU पर
beamline, एक स्थानीय में परमाणुओं की संरचना निर्धारित करने के लिए 3D
Euba के 300 एनएम पतली फिल्मों में घन परमाणुओं के आसपास संरचना
2Cu3O7
,
जो epitaxially एक एम जी ओ सब्सट्रेट पर बड़े हो रहे थे। घन के.आर.
विशेषता तीव्रता में एक ग्रेफाइट दर्पण से ध्यान केंद्रित किया गया
डिटेक्टर के सामने; इस प्रयोगात्मक सेटअप काफी बढ़
detectable एक्स-रे तीव्रता। पूरे माप समय था
? 2.5 ज, जब 0-360 डिग्री के कोण दिगंशीय रेंज में मापने
और 0-70 °; कोणीय कदम 0.3 डिग्री और 1 °, और बीच में थे
एक व्यक्ति के लिए पिक्सेल समय को मापने था 0.1 एक 2 के साथ? 10
6
मायने रखता है / एस दर गिनती। Faigel और सह कार्यकर्ताओं प्रकाशित (E3) एक
एक्स-रे होलोग्रफ़ी के तरीकों के बारे में दूसरा कागज, और वे एक दिया
दो बुनियादी व्यवस्थाओं का व्यवस्थित वर्णन: स्रोत के अंदर
होलोग्रफ़ी और अंदर डिटेक्टर होलोग्रफ़ी। क्या इस विधि कर सकते हैं
हमें दे कि अन्य तकनीकों नहीं कर सकते? लेखकों ने उत्तर दिया कि
XRFH, इस तरह के रूप में EXAFS परमाणुओं पर स्थानीय जानकारी देता है, लेकिन
XRFH एक चयनित नमूने में परमाणुओं का एक सीधा 3D आदेश अर्जित करता है।
लेखकों जोर देकर कहा कि विधि इमेजिंग एक करने में सक्षम है

nonperiodic नमूना संरचना; विश्लेषणात्मक सुविधा XRFH है कि बनाता है
के 3D इमेजिंग के लिए महत्वपूर्ण प्रक्रियाओं में से एक प्रयोगात्मक
परमाणु के आकार microobject और यह उच्च में उत्कृष्ट फिट होगा
इस तरह मुक्त इलेक्ट्रॉन के रूप में प्रतिभा चौथी पीढ़ी के एक्स-रे स्रोतों
पराबैंगनीकिरण। होलोग्रफ़ी तकनीक के लिए एक बहुत ही होनहार उपकरण है
अर्धचालक क्रिस्टल के रूप में परमाणु स्थानीयकरण के निर्धारण
ताकाहाशी एट अल। (E4) उनकी प्रयोगात्मक परिणामों के साथ प्रकाशित
एक GaAs क्रिस्टल में XRF होलोग्रफ़ी माप की। वे
पहली बार प्रदर्शन के रूप में कश्मीर अवशोषण पर एक एक्स-रे अवशोषण विश्लेषण
धार और फिर तीन पर तीन अलग-अलग XRF होलोग्राम दर्ज की
के रूप में कश्मीर किनारे के आसपास विभिन्न उत्तेजना ऊर्जा। तुलना
इन समान होलोग्राम की स्थिति के बारे में जानकारी प्राप्त हुए
आसपास गा के रूप में के पड़ोस में अनुवादित
परमाणुओं, जो सूचना गणना की सटीकता बढ़ जाती है
परमाणु दूरी। उलटा फूरियर विश्लेषण एक्स-रे में लागू किया गया था
के आकलन के लिए प्रतिदीप्ति होलोग्राफिक प्रयोगों
हयाशी के एक प्रकाशन में पड़ोसी परमाणुओं के बीच दूरी
(E5); विधि Au के माप के आधार पर की गई थी
प्रतिदीप्ति एलआर (9.712 कीव) अलग से एक विस्तृत ठोस कोण में लाइन
दिगंशीय और ध्रुवीय कोण। लेखक अणु चुना गया
16 अलग होलोग्राम के आधार पर दर्ज की दूरी पर
22.5- में 30-0.6 कीव की रेंज में अलग अलग उत्तेजना ऊर्जा
कीव कदम है, और डिटेक्टर सेटअप एक lif विश्लेषण के शामिल
क्रिस्टल और एक हिमस्खलन photodiode। की दूरी प्राप्त
अलग दिशा में Au परमाणुओं डेटा की तुलना में थे
गणना EXAFS माप से, और एक अच्छा समझौता किया गया था
मिल गया; परमाणु स्थिति के निर्धारण के लिए ठेठ सटीकता
XRFH माप के आधार पर? 0.3% एक्स-रे के भीतर था
radiography- और टोमोग्राफी इमेजिंग आधारित तरीकों से ग्रस्त
गरीब विपरीत; इस वृद्धि से सुधार किया जा सकता
irradiating एक्स-रे प्रवाह है कि में उच्च विकिरण क्षति पैदावार
नमूना। अंत में, एक्स-रे होलोग्रफ़ी के इस Subchapter में, हम की समीक्षा
प्रकाशित सुजुकी एट अल एक नया होलोग्रफ़ी सेटअप की। (E6)। इसमें
कागज, वे एक एक्स-रे होलोग्रफ़ी मिलकर माइक्रोस्कोप वर्णित
एक Fresnel क्षेत्र प्लेट लेंस की (FZP) नमूना के बीच रखा
और डिटेक्टर। FZP एक उद्देश्य लेंस और एक लहर के रूप में काम
सामने विभक्त व्यकिकरणमीटर क्योंकि होलोग्राफिक जानकारी
दो समान एक्स-रे बीम के हस्तक्षेप में प्राप्त हुई थी।
दो मुस्कराते हुए मूल सुसंगत से FZP द्वारा तैयार किए गए
किरण; किरण के आधे वस्तु नमूना के माध्यम से प्रचारित
और नमूने के साथ बातचीत के बिना दूसरे आधे (संदर्भ
तरंग)। संदर्भ किरण हालांकि एक एक्स-रे चश्मे प्रचारित;
इस ऑप्टिकल तत्व इस तरह से किरण दिशा संशोधित
दोनों मुस्कराते हुए डिटेक्टर की सतह पर मुलाकात की और उत्पादन किया है कि
हस्तक्षेप कि होलोग्राफिक जानकारी निहित। कांग्रेस
FZP और अपवर्तक चश्मे के लेंस के ऑप्टिकल क्षमता Sidering
उनकी होलोग्राफिक माइक्रोस्कोप में, वे प्राप्त होने का अनुमान
? 10 एनएम के रूप में सैद्धांतिक स्थानिक संकल्प। एक अमेरिकी शोध
प्रकाशित (E7) समूह फूरियर में उनके परिणाम को बदलने के एक्स-रे
होलोग्रफ़ी, Au के समूहों से होने वाले मुलायम एक्स-किरणों का उपयोग
सतह पर स्थित nanoballs। के एक संकल्प? 30 एनएम था
प्राप्त जब nanoballs के बड़े समूहों संदर्भ के रूप में इस्तेमाल किया गया।
विधि एक lensless प्रक्रिया है कि बहुत आसानी से लागू किया जा सकता है
जरूरी है और केवल इसलिए नहीं कि शीशा इमेजिंग प्रकाशिकी हैं
एक बंद अक्ष संदर्भ बीम और एक फूरियर परिवर्तन हैं
आवश्यक हो, डिजिटल पुनर्निर्माण के साथ। तरीका हो सकता है
जटिल वस्तु के किसी भी प्रकार के लिए लागू है, और यह 3D करने में सक्षम था
टोमोग्राफी इमेजिंग यदि विश्लेषण किया वस्तु और संदर्भ

वस्तुओं घूर्णन अक्ष पर दोनों थे। पील एट अल। (E8) विकसित
एक मापने और डेटा मूल्यांकन पद्धति एक चरण विपरीत का उपयोग कर
एक्स-रे टोमोग्राफी प्रक्रिया अवशोषण टोमोग्राफी के लिए आवेदन किया।
लेखकों व्यवहार में उनके प्रस्ताव का प्रदर्शन किया और पता चला
यह एक microfocus प्रयोगशाला एक्स-रे के मामले में लागू किया जा सकता है कि
स्रोत या विकिरण facili- पर झुकने चुंबक प्रविष्टि डिवाइस
संबंधों। नमूनों पर अनुमानों 0 से कोण पर ले जाया गया
180 में to0.25 ° ° कदम। monochromatized बीम के आकार का था
102? 35ím
2
60 के साथ? 2.1 IRAD
2
विचलन; नमूना था
एक गोनियोमीटर सिर कि घुमाया गया था और में ले जाया गया में मुहिम शुरू की
एक्स-रे किरण के सामने दो समान और orthogonal दिशाओं।
इमेजिंग डिटेक्टर एक 300- IM-मोटी CdWO4 जगमगाहट था
स्क्रीन, 1024 के साथ एक सीसीडी कैमरा करने के लिए मिलकर? 1024 संकल्प,
जो आकार में 4.65 आईएम था। एक संयुक्त टोमोग्राफी मापने सेटअप
एक 9 मेगावाट अनुसंधान रिएक्टर में डिजाइन और निर्मित (E10) का उपयोग कर रहा था
मिश्रित न्यूट्रॉन, सी और एक्स-किरणों से मिलकर विकिरण, औद्योगिक लिए
macroscopically आकार के नमूने के मामले में आवेदन। के लिए
मूल्यांकन प्रक्रिया, लेखक आमतौर पर लागू इस्तेमाल किया
वापस प्रक्षेपण प्रक्रिया, 180 समान अनुमान चित्रों का उपयोग
एक सीसीडी कैमरा और एक जुड़ा सिंटिलेटर स्क्रीन के द्वारा दर्ज की गई।
कुछ टोमोग्राफी छवि में सुधार करने के लिए, लेखकों शुरू की
पुनर्निर्माण की प्रक्रिया में सुधार: (i) की निकासी
के हित की सीमा से युक्त प्रक्षेपण के संबंधित क्षेत्र
वस्तु, (ii) तीव्रता सुधार निरंतर पृष्ठभूमि की व्यवस्था करने के लिए
तीव्रता, (iii) के असमान संवेदनशीलता के उन्मूलन
डिटेक्टर की थाली, और (iv) उच्चतम गहन छान पिक्सल। वांग
और अन्य। (E10) एक नई उच्च दबाव चैम्बर के बारे में प्रकाशित किया है कि
उच्च दबाव एक्स-रे टोमोग्राफी के लिए निर्माण किया गया था (HPXTM)
माप। ? 10ím की एक स्थानिक संकल्प हासिल की थी। में
पारंपरिक टोमोग्राफी विधि के साथ तुलना के सबसे
संकल्प नुकसान उच्च दबाव में हुई चैम्बर की वजह से है
मुश्किल बिखरने और विकिरणित नमूने में अवशोषण के लिए।
नई विधि के दायरे के भीतर की संरचना का अध्ययन करने के लिए है
चरण विपरीत के साथ दोनों क्रिस्टलीय और अनाकार सामग्री और
विवर्तन बढ़ाया टोमोग्राफी इमेजिंग प्रक्रियाओं। मुख्य
HPXTM के विकास के लिए लेखकों की प्रेरणा अध्ययन करने के लिए था
फे युक्त सिलिकेट matrixes से अलगाव तंत्र पिघला।
मूल उच्च दबाव चैम्बर एल्यूमीनियम के छल्ले द्वारा संशोधित किया गया था
नमूना सामग्री में हार्ड एक्स रे की अनुमति है कि पैठ है कि
8 GPa अप करने के लिए संकुचित है। एक्स-रे विवर्तन के लिए एक नई डिवाइस
माइक्रोस्कोपी और टोमोग्राफी अनुसंधान समूह द्वारा विकसित किया गया था
cryogenically ठंडा के जटिल विश्लेषण के लिए Beetz (E11) की
जैविक नमूने, पर अधिक से अधिक जानकारी प्राप्त करने के लिए
noncrystalline प्रकाश मैट्रिक्स नमूने के microstructure। नमूना
एक cryogenically ठंडा नमूना धारक में रखा जा सकता है कि
एक चार के साथ 0 ° ° -80 के लिए 3D इमेजिंग की रेंज में झुका जा सकता है
अक्ष गोनियोमीटर। प्रत्यक्ष इमेजिंग के प्रयोजन के लिए, एक FZP कर सकते हैं
इसके अतिरिक्त मापने सेटअप में डाला जा सकता है। के शीतलन
इस तरह के ज्यादातर जैविक नमूने के रूप में प्रकाश matrixes होने के नमूने,
नमूना थोक में नुकसान की वजह से प्रभाव के कारण आवश्यक है
एक्स-रे बीम के माध्यम से प्रेषित द्वारा गहन गर्मी भार से
साँचा। सीसीडी विवर्तन की रिकॉर्डिंग के लिए इस्तेमाल किया कैमरा
पैटर्न 1340 के एक संकल्प किया था? एक 1300-आईएम पिक्सेल के साथ 20 पिक्सल
आकार। यही कारण है कि डिवाइस -45 डिग्री सेल्सियस पर रखा गया था अवांछित कम करने के लिए
इलेक्ट्रॉनिक शोर।

XRF टोमोग्राफी की मात्रा का ठहराव प्रक्रियाओं एक केंद्रीय हैं
डेटा की बड़ी मात्रा के कारण डेटा मूल्यांकन में समस्या है।
Chukalina एट अल। (E12) एक विशेष पुनर्निर्माण विकसित algo-