എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് ടെക്നോളജി - പരാജയത്തിന്റെ വേരുകൾ കാണുന്നതിന് - https://hv-caps.biz
മിക്ക ആധുനിക ഇലക്ട്രോണിക് ഉപകരണങ്ങളും "ബ്ലാക്ക് ബോക്സുകൾ" എന്ന പഴഞ്ചൊല്ലായി പാക്കേജുചെയ്തിരിക്കുന്നു; പുറത്തെ പാക്കേജിംഗ് നോക്കി ഉപകരണത്തിനുള്ളിൽ എന്താണ് സംഭവിക്കുന്നതെന്ന് പറയാൻ ഏതാണ്ട് അസാധ്യമാണ്. എന്തിനധികം, ഉൽപ്പന്നത്തിൽ മാറ്റാനാകാത്ത മാറ്റങ്ങൾ വരുത്താതെ തന്നെ തുറക്കാൻ സാധിക്കാത്ത തരത്തിലാണ് പല ഉപകരണങ്ങളും രൂപകൽപ്പന ചെയ്തിരിക്കുന്നത്. ഇത്തരത്തിലുള്ള ഉപകരണങ്ങൾ പരാജയ വിശകലനത്തിന് ഒരു അദ്വിതീയ പ്രശ്‌നം സൃഷ്ടിക്കുന്നു - ഒരു ഉപകരണത്തിന്റെ പ്രവർത്തനപരമായ ഭാഗങ്ങൾ കാണാൻ കഴിയാതെ, പരാജയപ്പെടുന്ന ഒരു ഘടകമോ സിഗ്നലോ കണ്ടെത്തുന്നത് മിക്കവാറും അസാധ്യമാണ്. വിനാശകരമായ സാങ്കേതിക വിദ്യകൾ ലഭ്യമാണെങ്കിലും, ഒരു ഉപകരണത്തിന്റെ "ധൈര്യം" എന്നതിലേക്ക് അനലിസ്റ്റിനെ ആക്‌സസ് ചെയ്യാൻ അനുവദിക്കുന്നു, ഈ സാങ്കേതിക വിദ്യകൾ പലപ്പോഴും ഒരു നിശ്ചിത തലത്തിലുള്ള അപകടസാധ്യത വഹിക്കുന്നു; ഒരു ഇന്റഗ്രേറ്റഡ് സർക്യൂട്ടോ മറ്റ് അസംബ്ലിയോ വിനാശകരമായി തുറക്കുന്നത്, വളരെ അപൂർവമായ സന്ദർഭങ്ങളിൽ, കേടുപാടുകൾക്ക് കാരണമാകും. ഒരു വിശകലന വിദഗ്ധൻ കണ്ടെത്തുന്ന ഏതെങ്കിലും നാശനഷ്ടം മുമ്പ് നിലനിന്നിരുന്നതാണെന്നും വിശകലനത്തിനിടയിൽ സൃഷ്ടിക്കപ്പെട്ടതല്ലെന്നും ന്യായമായ സംശയാതീതമായി തെളിയിക്കാൻ സഹായിക്കുന്നതിന്, ബ്ലാക്ക് ബോക്സിനുള്ളിൽ നോക്കുന്നതിനുള്ള വിനാശകരമല്ലാത്ത ഒരു മാർഗം ആവശ്യമാണ്. എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് ഈ ആപ്ലിക്കേഷന് തികച്ചും അനുയോജ്യമാകും, മിക്ക ഉപകരണങ്ങളിലും ചുറ്റുമുള്ള ആവരണത്തിലേക്ക് എളുപ്പത്തിൽ തുളച്ചുകയറുന്നു.
പരാജയ വിശകലനത്തിനായി ഉപയോഗിക്കുന്ന എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് സിസ്റ്റങ്ങൾ വൈദ്യശാസ്ത്ര നടപടിക്രമങ്ങൾക്ക് ഉപയോഗിക്കുന്ന അതേ രീതിയിലാണ് പ്രവർത്തിക്കുന്നത്, വളരെ താഴ്ന്ന പവർ ലെവലിലാണെങ്കിലും. ഒരു എക്സ്-റേ സോഴ്‌സും ഡിറ്റക്ടറും ഉപയോഗിച്ച്, ഒരു ഡോക്ടർക്ക് ഒടിഞ്ഞ എല്ലുകൾ നോക്കാൻ ഒരു എക്സ്-റേ പഠിക്കുന്നതുപോലെ, ഒരു ഉപകരണത്തിന്റെ ആന്തരിക ഘടനയിൽ അപാകതകൾ പരിശോധിക്കാൻ ഒരു അനലിസ്റ്റിന് കഴിയും. ഉപകരണത്തിന്റെ തരത്തെയും റിപ്പോർട്ട് ചെയ്ത പരാജയത്തിന്റെ അവസ്ഥയെയും ആശ്രയിച്ച്, വ്യത്യസ്ത കാര്യങ്ങൾക്കായി എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് ഉപയോഗിച്ചേക്കാം. ഒരു ഇന്റഗ്രേറ്റഡ് സർക്യൂട്ട് പഠിക്കുമ്പോൾ, ഉദാഹരണത്തിന്, എക്സ്-റേയ്ക്ക് ബോണ്ട് വയറുകളോ ഫ്ലിപ്പ്-ചിപ്പ് ബമ്പുകളോ ഉള്ള പ്രശ്നങ്ങൾ എളുപ്പത്തിൽ വെളിപ്പെടുത്താൻ കഴിയും, പലപ്പോഴും ഓപ്പൺ സർക്യൂട്ട് അല്ലെങ്കിൽ ഷോർട്ട് സർക്യൂട്ട് അവസ്ഥകൾ കാണിക്കുകയും പാക്കേജ് തുറക്കേണ്ടതിന്റെ ആവശ്യകത ഇല്ലാതാക്കുകയും ചെയ്യുന്നു. തീർച്ചയായും, ചില സന്ദർഭങ്ങളിൽ - ഉദാഹരണത്തിന്, പാക്കേജിംഗ് സമയത്ത് വയർ സ്വീപ്പ് കാരണം തൊട്ടടുത്തുള്ള ബോണ്ട് വയറുകൾ സ്പർശിക്കുന്ന സാഹചര്യത്തിൽ - ഉപകരണത്തിന്റെ പരമ്പരാഗത ഡീകാപ്സുലേഷൻ പരാജയത്തിന്റെ ഏതെങ്കിലും തെളിവുകൾ മൊത്തത്തിൽ നീക്കം ചെയ്യും!
പ്രിന്റഡ് സർക്യൂട്ട് അസംബ്ലികളുടെ പരാജയ വിശകലനത്തിനും എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് ഉപയോഗപ്രദമാകും. മിക്ക ആധുനിക സർക്യൂട്ട് ബോർഡുകളും സിഗ്നലുകൾ പോയിന്റിൽ നിന്ന് പോയിന്റിലേക്ക് നയിക്കുന്നതിന് ചാലക ട്രെയ്‌സുകളുടെ ഒന്നിലധികം പാളികൾ ഉപയോഗിക്കുന്നതിനാൽ, ഘടകങ്ങൾക്കിടയിലുള്ള വൈദ്യുത പാത ദൃശ്യപരമായി കണ്ടെത്തുന്നത് എല്ലായ്പ്പോഴും സാധ്യമല്ല. എക്സ്-റേയ്ക്ക് ഒരു ബോർഡിന്റെ എല്ലാ പാളികളും ഒരേസമയം വെളിപ്പെടുത്താൻ കഴിയുന്നതിനാൽ, ഒരു സിഗ്നൽ പിന്തുടരുകയും പരാജയം സംഭവിച്ച ഒരു സൈറ്റ് കൃത്യമായി കണ്ടെത്തുകയും ചെയ്യുന്നത് വളരെ ലളിതമാണ്. കൂടാതെ, വിഷ്വൽ ഇൻസ്പെക്ഷനിൽ പ്രകടമാകാനിടയില്ലാത്ത ചില വൈകല്യങ്ങൾ, ഡ്രില്ലിംഗ് വഴി അനുചിതമായതോ അല്ലെങ്കിൽ ഘടകഭാഗങ്ങളുടെ തെറ്റായ രജിസ്ട്രേഷനോ പോലെ, എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് ഉപയോഗിച്ച് കൂടുതൽ എളുപ്പത്തിൽ തിരിച്ചറിയാൻ കഴിയും.
നോൺ-ഡിസ്ട്രക്റ്റീവ് ടെസ്റ്റിംഗ് (എൻ‌ഡി‌ടി) - മാറ്റാനാവാത്ത ദോഷമോ മാറ്റമോ വരുത്താതെ ഒരു സാമ്പിളിനെക്കുറിച്ചുള്ള ഡാറ്റ ശേഖരിക്കുന്നത് പരാജയ വിശകലനത്തിന്റെ ഏറ്റവും പ്രധാനപ്പെട്ട ഘട്ടങ്ങളിലൊന്നാണ്. ഒരു സാമ്പിളിന്റെ ശാരീരിക സമഗ്രതയെ തടസ്സപ്പെടുത്താതെ അതിന്റെ ആന്തരിക തന്ത്രങ്ങൾ പഠിക്കാൻ ഒരു അനലിസ്റ്റിനെ അനുവദിക്കുന്നതിലൂടെ, എക്സ്-റേ ഇമേജിംഗ് NDT പ്രക്രിയയുടെ അവിഭാജ്യ ഘടകമാണ്.
ഡെറക് സ്നൈഡർ ഇൻസൈറ്റ് അനലിറ്റിക്കൽ ലാബിലെ പരാജയ വിശകലന വിദഗ്ധനാണ്, അവിടെ അദ്ദേഹം 2004 മുതൽ ജോലി ചെയ്യുന്നു. നിലവിൽ കൊളറാഡോ സ്പ്രിംഗ്സിലെ കൊളറാഡോ സർവകലാശാലയിൽ ബിരുദ വിദ്യാർത്ഥിയാണ്, അവിടെ അദ്ദേഹം ഇലക്ട്രിക്കൽ എഞ്ചിനീയറിംഗിൽ സയൻസ് ബിരുദം നേടുന്നു.