எக்ஸ்-ரே இமேஜிங் தொழில்நுட்பம் - தோல்வியின் வேரைப் பார்ப்பது - https://hv-caps.biz
பெரும்பாலான நவீன மின்னணு சாதனங்கள் "கருப்பு பெட்டிகள்" என்ற பழமொழியாக தொகுக்கப்பட்டுள்ளன; வெளிப்புற பேக்கேஜிங்கைப் பார்த்து ஒரு சாதனத்திற்குள் என்ன நடக்கிறது என்று சொல்வது கிட்டத்தட்ட சாத்தியமற்றது. மேலும் என்னவென்றால், பல சாதனங்கள் தயாரிப்பில் மாற்ற முடியாத மாற்றங்களை ஏற்படுத்தாமல் திறக்க இயலாது. இந்த வகையான சாதனங்கள் தோல்வி பகுப்பாய்விற்கு ஒரு தனித்துவமான சிக்கலை ஏற்படுத்துகின்றன - ஒரு சாதனத்தின் செயல்பாட்டுத் துண்டுகளைக் காண முடியாமல், தோல்வியுற்ற கூறு அல்லது சமிக்ஞையைக் கண்டுபிடிப்பது கிட்டத்தட்ட சாத்தியமற்றது. அழிவுகரமான நுட்பங்கள் ஏராளமாக உள்ளன, ஒரு சாதனத்தின் "தைரியத்தை" ஆய்வாளர் அணுக அனுமதிக்கிறது, இந்த நுட்பங்கள் பெரும்பாலும் அவர்களுடன் ஒரு குறிப்பிட்ட அளவிலான ஆபத்தை கொண்டுள்ளன; ஒருங்கிணைந்த சுற்று அல்லது பிற சட்டசபையை அழிவுகரமாக திறப்பது மிகவும் அரிதான சந்தர்ப்பங்களில் சேதத்தைத் தூண்டும். ஒரு ஆய்வாளர் கண்டறிந்த எந்தவொரு சேதமும் முன்பே இருந்ததாகவும், பகுப்பாய்வின் போது உருவாக்கப்படவில்லை என்றும் நியாயமான சந்தேகத்திற்கு அப்பால் நிரூபிக்க உதவ, கருப்பு பெட்டியின் உள்ளே பார்க்க ஒரு அழிவுகரமான வழி அவசியம். எக்ஸ்-ரே இமேஜிங் இந்த பயன்பாட்டிற்கு தன்னை முழுமையாகக் கொடுக்கிறது, பெரும்பாலான சாதனங்களைச் சுற்றியுள்ள கவசத்தை எளிதில் ஊடுருவுகிறது.
தோல்வி பகுப்பாய்விற்குப் பயன்படுத்தப்படும் எக்ஸ்ரே இமேஜிங் அமைப்புகள் மருத்துவ நடைமுறைகளுக்குப் பயன்படுத்தப்படும் அதே வழியில் செயல்படுகின்றன, இருப்பினும் மிகக் குறைந்த சக்தி மட்டத்தில். எக்ஸ்ரே மூலத்தையும் கண்டுபிடிப்பாளரையும் பயன்படுத்துவதன் மூலம், ஒரு ஆய்வாளர் ஒரு சாதனத்தின் உள் கட்டமைப்பைப் படித்து குறைபாடுகளைக் காணலாம், அதேபோல் எலும்பு முறிந்த எலும்புகளைத் தேடுவதற்கு ஒரு மருத்துவர் ஒரு எக்ஸ்ரேயைப் படிக்கலாம். சாதனத்தின் வகை மற்றும் அறிவிக்கப்பட்ட தோல்வி நிலையைப் பொறுத்து, எக்ஸ்ரே இமேஜிங் பல்வேறு விஷயங்களைத் தேட பயன்படுத்தப்படலாம். ஒரு ஒருங்கிணைந்த சுற்று படிக்கும் போது, எடுத்துக்காட்டாக, எக்ஸ்ரே பிணைப்பு கம்பிகள் அல்லது ஃபிளிப்-சிப் புடைப்புகளில் உள்ள சிக்கல்களை எளிதில் வெளிப்படுத்தலாம், பெரும்பாலும் திறந்த-சுற்று அல்லது குறுகிய-சுற்று நிலைமைகளைக் காண்பிக்கும் மற்றும் தொகுப்பைத் திறக்கும் தேவையை நீக்குகிறது. உண்மையில், சில சந்தர்ப்பங்களில் - எடுத்துக்காட்டாக, பேக்கேஜிங் போது கம்பி துடைப்பதன் காரணமாக அருகிலுள்ள பிணைப்பு கம்பிகள் தொட்டால் - சாதனத்தின் பாரம்பரிய டிகாப்சுலேஷன் தோல்வியின் எந்த ஆதாரத்தையும் முழுவதுமாக அகற்றும்!
அச்சிடப்பட்ட சுற்று கூட்டங்களின் தோல்வி பகுப்பாய்விற்கும் எக்ஸ்ரே இமேஜிங் பயனுள்ளதாக இருக்கும். பெரும்பாலான நவீன சர்க்யூட் போர்டுகள் சமிக்ஞைகளை புள்ளியிலிருந்து புள்ளிக்கு வழிநடத்த கடத்தும் தடயங்களின் பல அடுக்குகளைப் பயன்படுத்துவதால், கூறுகளுக்கு இடையிலான மின் பாதையை பார்வைக்கு எப்போதும் கண்டுபிடிக்க முடியாது. எக்ஸ்ரே ஒரு குழுவின் அனைத்து அடுக்குகளையும் ஒரே நேரத்தில் வெளிப்படுத்த முடியும் என்பதால், ஒரு சமிக்ஞையைப் பின்பற்றி தோல்வி தளத்தை சுட்டிக்காட்டுவது மிகவும் நேரடியானது. மேலும், காட்சி பரிசோதனையில் தெளிவாகத் தெரியாத சில குறைபாடுகள், துளையிடுதல் அல்லது கூறு தவறாகப் பதிவுசெய்தல் போன்ற முறையற்றவை போன்றவை எக்ஸ்ரே இமேஜிங் மூலம் மிக எளிதாக அடையாளம் காணப்படுகின்றன.
அழிக்காத சோதனை (என்.டி.டி) - மாற்றமுடியாத தீங்கு அல்லது மாற்றத்தை ஏற்படுத்தாமல் ஒரு மாதிரியைப் பற்றிய தரவைச் சேகரிப்பது - தோல்வி பகுப்பாய்வின் மிக முக்கியமான படிகளில் ஒன்றாகும். ஒரு மாதிரியின் உடல் ஒருமைப்பாட்டைத் தொந்தரவு செய்யாமல் ஒரு ஆய்வாளரின் உள் சூழ்ச்சிகளைப் படிக்க அனுமதிப்பதன் மூலம், எக்ஸ்ரே இமேஜிங் இது NDT செயல்முறையின் ஒருங்கிணைந்த பகுதியாகும்.
டெரெக் ஸ்னைடர் இன்சைட் அனலிட்டிகல் லேப்ஸில் தோல்வி ஆய்வாளர் ஆவார், அங்கு அவர் 2004 முதல் பணிபுரிந்தார். அவர் தற்போது கொலராடோ ஸ்பிரிங்ஸில் உள்ள கொலராடோ பல்கலைக்கழகத்தில் இளங்கலை மாணவராக உள்ளார், அங்கு அவர் மின் பொறியியலில் இளங்கலை அறிவியல் பட்டம் பயின்று வருகிறார்.